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  • 保聖科技(jì)TA.XTC質構儀測試餅幹的硬度和(hé)脆裂性
  • 發布日期:2017-07-25 浏覽次數(shù):1489
  • 首先将兩個(gè)支撐點調整到合适的位置,以便支撐樣品的長度,例如30mm。為(wèi)了對比的目的,該位置應該記錄下來(lái)。然後将其安裝到承重平台上(shàng)。将承重平台安裝到主機上(shàng)并調整,直到上(shàng)刀具對準中心位置,旋緊承重平台。樣品從包裝袋中取出,選擇所需測試指标(最大(dà)正力和(hé)正面積),準備進行(xíng)實驗。

     

     

    TA.XTC質構儀配有(yǒu)三點彎曲探頭(HDP/3PB),用TA.XTC質構儀測試餅幹的硬度和(hé)脆裂性的原理(lǐ)是一旦TA.XTC質構儀探頭的感應力達到,曲線開(kāi)始表達出樣品被探頭下壓過程的效果。曲線最大(dà)壓力數(shù)值可(kě)以表達樣品的破裂強度。其他可(kě)表明(míng)的數(shù)字還(hái)有(yǒu):破裂距離和(hé)斜率。破裂距離表明(míng)樣品的脆性,顯示樣品能抗多(duō)長距離後被破壞。斜率表明(míng)樣品的硬度,斜率越高(gāo),硬度越大(dà)。

     

    之後是分析曲線最大(dà)正峰值與正面積:

     

    1種樣品,進行(xíng)20次重複的分析結果(+/-SD.)不合适數(shù)據需剔除),其硬度的最大(dà)正峰值是458.3 ± 52.6,其脆性的正面積是0.38 ± 0.05。

     

    在用TA.XTC質構儀測試餅幹的硬度和(hé)脆裂性時(shí)應該注意的是:為(wèi)了實驗數(shù)據可(kě)以對比,必須确保樣品的尺寸和(hé)支撐點的距離。樣品如果比較寬,要求的破裂力也比較大(dà)。

     

    另外,儲存、包裝和(hé)處理(lǐ)樣品的條件的變化,都會(huì)影(yǐng)響實驗結果。這些(xiē)條件應該是确定的保持連續的。

     

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